Viernes, 24 de Noviembre de 2017

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Cincuenta profesionales asisten al Workshop Técnico de Microscopía impartido por LEICA MICROSYSTEMS e IK4-AZTERLAN

Jul 04 2017
Cincuenta profesionales asisten al Workshop Técnico de Microscopía impartido por LEICA MICROSYSTEMS e IK4-AZTERLAN

Instituto de Fundición Tabira / Tabira Foundry Institute
El workshop “Microscopía: de Macro a Micro y de Micro a Nano“, organizado por LEICA MICROSYSTEMS, IK4-AZTERLAN y el Instituto de Fundición TABIRA, congregó a cerca de 50 técnicos de 25 empresas, centros y universidades

La jornada de trabajo se inició con una introducción por parte de LEICA MICROSYSTEMS de la terminología y conceptos básicos de las técnicas de microscopía, explicando las claves de funcionamiento de macroscopios, lupas y microscopios. Como se introdujo, las características o propiedades macroscópicas de los elementos dependen de las características microscópicas, tanto estructurales como de composición. Así, los expertos de LEICA fueron profundizando en Microscopía Digital a través de ejemplos muy prácticos, desde la formación de imagen en microscopía, hasta alcanzar nuevos conceptos en aumento y resolución. Para trabajos de inspección, documentación y análisis, como mediciones en 2D y 3D, estos microscopios están ganando popularidad en la producción, control y aseguramiento de la calidad, análisis de fallos e investigación y desarrollo, así como otras aplicaciones.

El equipo de ponentes continuó a través de ejemplos de microscopía analítica, herramienta de la Microscopía Electrónica que se refiere al Microanálisis, o sea, iluminar una muestra con un haz de electrones, logrando la emisión de señales que permitan, una vez detectadas y analizadas, determinar cuál es la composición elemental de la zona donde incide la luz. Se vio cómo este procedimiento sirve para analizar volúmenes o superficies, avanzando a los asistentes una serie de aplicaciones de análisis microestructural y de composición química.

El Centro de Investigación Metalúrgica IK4-AZTERLAN compartió con la audiencia una interesante conferencia sobre técnicas prácticas de análisis y caracterización de materiales mediante microscopía, dando claves prácticas para la selección del equipamiento óptico de análisis en función de las necesidades analíticas existentes en cada caso.

Finalmente, la jornada de trabajo se cerró con un bloque de prácticas que permitió trabajar con microscopios estereoscópicos, digitales y metalográficos, así como con software de adquisición de imagen y medición 2D y 3D. En concreto, se pudieron utilizar un estereomicroscopio Leica S9i, un microscopio digital Leica DMS1000 y el microscopio digital Leica DVM6.

En resumen, un seminario técnico muy participativo y con una alta valoración de sus contenidos por parte de las empresas asistentes.